布鲁克提供与扫描电镜（ SEM )、聚焦离子束-扫描电镜（ FIB-SEM ) .及电子探针（EPMA）均能完美搭配的完整产品系列。针对不种分析对于能谱仪不同的要求，布鲁克提供多种探头设计和不同的配置选择，从而为每种特定的应用提供最优的解决方案。并且所有的探头都具备业内最高的单位面积固体角。从而为微米及纳米尺度的微区分析提供了迄今为止最快和最可靠的强大分析工具。