布鲁克独特的同轴TKD技术解决方案以其显著领先的技术进一步推动了SEM中晶体学分析的空间分辨率极限，为纳米晶体的研究者提供了最优的解决方案。布鲁克独有的平插式 XFlash FlatQUAD EDS 探测器具有超过1.1 sr的业界最大立体角, 是低电压，低束流，纳米颗粒，微结构能谱分析工作者的的理想解决方案。XFlash@FlatQUAD和OPTIMUS 2使研究人员可以在高空间分辨率下同时获取包含元素组成和晶体取向数据的全部信息，是纳米材料研究领域极具效率的同步TKD-EDS分析解决方案。