微区X射线荧光成像光谱仪是非均匀或形状不规则的样品元素分析的首选方法。其测量结果能够给出样品成分和表面相关元素的分布情况甚至样品表面下元素分布信息。BRUKER微区X射线光谱仪经过优化，能够对固态，液态,颗粒等多种类型样品进行点、线和二维区域扫描(Mapping)快速分析。M4 TORNADO使用灵活、测试高效，可对不同尺寸样品进行非破坏性高分辨率快速扫描，获得样品中元素的分布情况。设备使用简单，基本无需制备样品，可直接进行测试。广泛应用于生命科学、刑侦公安、艺术考古、地球科学、半导体以及材料科学领域。