高度集成的模块化4200A-SCS参数分析仪对材料、半导体器件和工艺进行电性测量。该软件试用I-V和C-V测量扫描、超快速脉冲式和瞬态I-V和任意波形，引导用户执行复杂的特性测量测试，全面分析被测器件电性特征。
广泛从实验室一直到晶圆厂，吉时利不断向半导体市场推出新一代半导体测试仪。提供业内经济的全自动参数测试仪，更高测试吞吐量的参数分析仪，缩短产品开发周期，能够测试更多的器件类型，并提供全面的半导体器件测试和分析软件。