塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
ZEM-3拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；欧姆接触自动检测功能；可以用独创的适配器来测量薄膜；可定制高阻型。
ZEM-3应用方向：对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。
ZEM-3可选功能：1. 薄膜测量选件；2.低温选件（温度范围-100℃到200℃）；3.高阻选件（最高到10MΩ）。