采用垂直同步双观测 (DSOI)技术的ICP-OES等离子体发射光谱仪 SPECTROGREEN 全新革命性的垂直同步双观测（DSOI）技术，使传统的径向等离子体观测仪器的灵敏度提高了数倍。

TI技术带来的高灵敏度，能够实现对痕量元素进行测量，即使在充满挑战性的环境基体也能确保准确度，避免基体干扰。

新推出的GigE读出系统，能够在不到100毫秒的时间内收集、传输光谱及数据，从而加快分析速度，缩短了样品切换的时间，使单位时间内的样品分析数量大大增加。

灵敏及响应快速的LDMOS发生器，不需要外部冷却：具有分析高重的复杂基体的能力 -- 而无需稀释样品 – 仪器开机速度快（约10分钟）-- 生产率高。

全新New SPECTRO ICP Analyzer Pro 操作软件采用了简单直观的界面，易于使用。