钨灯丝扫描电子显微镜(W-SEM)，场发射扫描电子显微镜(FEG-SEM)，双束聚焦扫描电镜系统（FIB-SEM）,拉曼-电镜联用系统（RISE）以及双束电镜-二次离子质谱仪一体化系统（FIB-SEM+TOF-SIMS）是TESCAN最引以为傲的产品线。

TESCAN扫描电镜是性能极其强大的分析平台，在表征纳米材料的表面有独特的优势。采用 Triglav™ 型SEM镜筒的产品，可提供无交叉斑电子束，并具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显。Triglav™ 还配置了独特的镜筒内探测器系统，具有能量过滤和角度选择功能，可以采集不同的背散射电子信号呈现不同的衬度。而部分型号采用TESCAN BrightBeam™ 型SEM镜筒则配置了可变比例式静电-电磁复合物镜，可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。

聚焦离子束系统(FIB)可选择镓离子源FIB或者氙气等离子源FIB, FIB-SEM兼顾了材料研究的纳米尺度表征和FIB 应用,是制备高精度样品加工和先进材料表征的首选设备。